质量检测
方案设计 晶圆测试 芯片封装 成品测试 质量检测 仓储直发
可靠性测试服务 失效分析服务
uHAST
PCT
TCT
THT
HTST
HAST
HTGB
HTRB
H3TRB
IOL
高温反偏老炼检测系统
试验项目
高温栅偏压试验
参考标准
JESD22-A108/AEC-Q100/101
试验目的
评估栅氧化层在高温和电场应力下的长期可靠性