质量检测
方案设计 晶圆测试 芯片封装 成品测试 质量检测 仓储直发
可靠性测试服务 失效分析服务
uHAST
PCT
TCT
THT
HTST
HAST
HTGB
HTRB
H3TRB
IOL
冷热冲击试验箱
试验项目
温度循环试验
参考标准
JESD22-A104
试验目的
评估元器件内部各种不同材质在热胀冷缩作用下的界面完整性