质量检测
方案设计 晶圆测试 芯片封装 成品测试 质量检测 仓储直发
可靠性测试服务 失效分析服务
uHAST
PCT
TCT
THT
HTST
HAST
HTGB
HTRB
H3TRB
IOL
高加速老化试验箱
试验项目
无偏置高压蒸煮试验
参考标准
JESD22-A102, AEC-Q100/101
试验目的
评估元器件抗湿性、坚固性以及在高温和高压条件下抵抗潮湿相关失效的能力